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精密检测专用打光技术

精密检测专用打光技术

精密检测专用打光技术 / 精密检测专用打光技术

精密检测专用打光系统QDS19020101

概述:

在进行尺寸测量、缺陷检测中,成像质量的好坏直接影响对其检测的准确性,现有的微米级甚至亚微米级的检测需求,更是受成像精度的限制,因此一套能对其进行准确成像的专用打光方案必不可少。 

难点:

传统的打光多集中于使用背光源+高分辨率的工业相机进行打光采图,但因精密检测存在衍射现象,且所用光源的局限性,真实光路往往会出现发散情况现象,造成成像的边缘模糊;同时,光源、工件、镜头的安装误差,导致三者的光轴不在同一个线上,造成成像后的边缘易发生变形,对于精密边缘的检测造成严重的干扰。

打光1.png打光2.png

  传统打光方案                               专用打光模块

创新:

本公司针对传统打光方式的弊端,研制出精密检测专用的打光模块,以高频波段光,结合专用复合校正光路,设计出了QZM系列光源,发射出的光线经过定制透镜后,将形成亚微米平行度射光,再配合专用定制的结构设计,使光源、工件、镜头的相互配合,目标轮廓能精确地被相机捕获并成像,将边缘像素宽度由传统的5~6个像素提升到1~2像素,对后续尺寸测量、缺陷检测的精度均有大幅提升。 

效果、对比:

打光3.png

传统打光方式,边缘成像较为模糊,边缘宽度达到5~6像素,对于后续的检测非常不利;

打光4.png

专用打光模块,成像较为清晰,宽度仅为1~2像素,较为准确地反映了真实孔的轮廓,为后面的尺寸、缺陷检测的准确性提供保证。 

可应用场景:

化纤行业喷丝孔的打光成像、微型孔洞等高精密尺寸测量及缺陷检测。


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